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回路電阻測(cè)試儀應(yīng)用及特性
回路電阻測(cè)試儀應(yīng)用及特性
回路電阻測(cè)試儀應(yīng)用方案
回路電阻測(cè)試儀連續(xù)輸出大電流能有效克服“脈沖式”電源不能連續(xù)工作臺(tái)和不能有效擊穿被試品“氧化膜”的弊端，測(cè)量分辨率可達(dá)到0.1?Ω。各測(cè)量功能與進(jìn)口產(chǎn)品相當(dāng)。廣泛用于電氣開(kāi)關(guān)的各種測(cè)試場(chǎng)合。
回路電阻測(cè)試儀又稱接觸電阻測(cè)試儀還稱大電流微歐計(jì)。主要用于斷路器接觸電阻與截流導(dǎo)體電阻的高精度測(cè)量，能長(zhǎng)時(shí)間穩(wěn)定輸出電流，符合DL\T845.4-2004《電阻測(cè)量裝置通用技術(shù)條件，第四部分：回路電阻測(cè)試儀》的相關(guān)規(guī)定.
回路電阻測(cè)試儀特性
大電流：采用電源技術(shù)，能長(zhǎng)時(shí)間連續(xù)輸出大電流，克服了脈沖式電源只能瞬間輸出電流的弊端，可以有效地?fù)舸╅_(kāi)關(guān)觸頭氧化膜，得到良好的測(cè)試結(jié)果。
準(zhǔn)確度高：在嚴(yán)重干擾環(huán)境下，數(shù)據(jù)能穩(wěn)定在0. 1μΩ，并且數(shù)據(jù)重復(fù)性好，，特別適合微電阻的高精度測(cè)試。
*的軟硬件設(shè)計(jì)，能有效消除測(cè)試導(dǎo)線電阻和測(cè)試鉗接觸電阻對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響 ，改變測(cè)試導(dǎo)線長(zhǎng)度對(duì)測(cè)試結(jié)果也無(wú)影響。
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